Geometrical study of the sequence of development of interfaces in a carbon-metal thin multilayer structure-Reference-Cited by-同舟云学术

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Geometrical study of the sequence of development of interfaces in a carbon-metal thin multilayer structure

Published:1986-11 Issue:5 Volume:15 Page:379-399
ISSN:0254-0584
Container-title:Materials Chemistry and Physics
language:en
Short-container-title:Materials Chemistry and Physics

Author:

Desrousseaux G.,Carlan A.,Robrieux B.,Schaffar H.,Faure R.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Condensed Matter Physics,General Materials Science

Reference20 articles.

1. Caracterisation geometrique de depots metalliques discontinus sur film de carbone deduite des seules mesures d'epaisseur massique et de conductance de couche

2. Utilisation de la conductance pour décrire l'évolution initiale de la granulométrie des dépôts métalliques sur film de carbone

3. Conductance of metallic deposits on amorphous carbon during the nucleation and the growth

4. Relation entre la granulométrie d'une couche métallique discontinue et les mesures de son épaisseur et de sa conductance

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Evolution des interfaces a-C/Au et Au/a-C durant la progression d'un empilement de condensats ultrafins;Revue de Physique Appliquée;1987

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