Research Status of Total Dose Effect of CMOS Integrated Circuit

Author:

梁 泽宇

Publisher

Hans Publishers

Reference33 articles.

1. 王同权, 沈永平, 王尚武, 等. 空间辐射环境中的辐射效应[J]. 国防科技大学学报, 1999, 21(4): 36-39. http://journal.nudt.edu.cn/gfkjdxxb/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=199904009

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3. Lacoe, R. (2003) CMOS Scaling: Design Principles and Hardening-by-Design Methodology. NSREC Short Course.

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5. C. Claeys, E. Simoen. 先进半导体材料及器件的辐射效应[M]. 北京: 国防工业出版社, 2008.

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