1. 钟立强, 陈文华, 钱萍, 高亮, 陈磊磊, 赵志伟. 贮存剖面下电连接器接触性能退化统计建模研究[J]. 机械工程学报, 2018, 54(24): 197-205.
2. Galvanic corrosion of electroless nickel/immersion gold plated non-permanent electric contacts used in electronic devices–direct evidence of triggering mechanism
3. 张义, 彭晓杰, 朱恒静, 王腾研, 逄哲. 典型航天电连接器接触件镀层结构及其特性试验分析[J]. 质量与可靠性, 2020(3): 7-11+16.
4. 王思醇, 李文明, 杨琼, 吴远进. 镀层质量对电接触转换可靠性的影响[J]. 电镀与涂饰, 2022, 41(1): 32-37.
5. 芦娜, 周怡琳, 章继高. 连接器镀金层的质量分析[J]. 世界电子元器件, 1998(11): 45-48.