Methodology for assessing the Compatibility and Reliability of Detection Chain Performances

Author:

Lalléchère S.1,Patier L.2,De Daran F.1,Maurice O.3

Affiliation:

1. Safran Tech, Rue des jeunes Bois,Châteaufort,France,78117

2. CNES, 18 avenue Edouard Belin,Toulouse Cedex,France,31401

3. ArianeGroup, 51-61 route de Verneuil,Les Mureaux Cedex,France,78133

Publisher

IEEE

同舟云学术

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