An Efficient Yield Estimation Method for Layouts of High Dimensional and High Sigma SRAM Arrays-Reference-Cited by-同舟云学术

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An Efficient Yield Estimation Method for Layouts of High Dimensional and High Sigma SRAM Arrays

Published:2021-02-01 Issue: Volume: Page:
ISSN:
Container-title:2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
language:
Short-container-title:

Author:

Shen Yue,Yan Changhao,Wang Sheng-Guo,Zhou Dian,Zeng Xuan

Funder

National Natural Science Foundation of China (NSFC)

Publisher

IEEE

Link

http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9473901/9473226/09473936.pdf?arnumber=9473936

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1. An Efficient SRAM Yield Analysis Method using Multi -Fidelity Neural Network;2024 2nd International Symposium of Electronics Design Automation (ISEDA);2024-05-10

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