Analysis of X-Ray Absorption Near-Edge Structure Using Electronic State Calculations with Boundary Structures
Author:
Affiliation:
1. Advanced Materials Institute, Fukuoka University
2. Department of Chemistry, Faculty of Science, Fukuoka University
Publisher
Japan Society for Analytical Chemistry
Subject
Analytical Chemistry
Link
http://www.jstage.jst.go.jp/article/bunsekikagaku/54/6/54_6_541/_pdf
Reference22 articles.
1. 1) 太田俊明編: "X線吸収分光法─XAFSとその応用", (2002), (アイピーシー).
2. 3) 宇田川康夫編: "X線吸収微細構造─XAFSの測定と解析", (1993), (学会出版センター).
3. 4) 足立裕彦監修: "はじめての電子状態計算", (1998), (三共出版).
4. (a) M. J. Valli, S. Matsuo, H. Wakita, T. Yamaguchi, M. Nomura: Inorg. Chem., 35, 5642 (1996);
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