COMPLEX CHARACTERIZATION OF THE BINARY THIN FILMS BASED ON CARBON DEPOSITED BY tva METHOD

Abstract

Lucrarea de fata se refera la studiul filmelor subtiri de carbon-metale (C-Me) depuse prin metoda Arcului Thermionic in vid (TVA) în configurația cu un tun eletronic, pe suport de sticla si siliciu cristalin. Filmele au fost investigate pentru a determina structurile formate, in scopul de a contura proprietatile si gama de aplicatii posibile. Morfologia de suprafata si udabilitatea au fost analizate prin microscipia de transmisie de electroni (TEM), microscopia de scanare prin electroni (SEM) si prin metoda SEE SYSTEM. Rezultatele furnizate prin microscopia de electroni au aratat modalitatea in care structurile de Ag, Mg and Si au interactionat cu carbonul si influenta pe care aceste materiale le au asupra formarii structurale si a distributiei particulelor. Analiza SEM corelata cu rezultatele (Energy Dispersive X-ray) EDX results conferă un studiu comparativ pentru a intelege structura complexa nanocristalina, in functie de elementul introdus (Ag, Si, Mg) in matricea de carbon pe substratul respectiv (Si, SiO2).