Author:
Adam J.,Bai X.,Baldini A. M.,Baracchini E.,Bemporad C.,Boca G.,Cattaneo P. W.,Cavoto G.,Cei F.,Cerri C.,Corbo M.,Curalli N.,De Bari A.,De Gerone M.,Del Frate L.,Doke S.,Dussoni S.,Egger J.,Fratini K.,Fujii Y.,Galli L.,Galeotti S.,Gallucci G.,Gatti F.,Golden B.,Grassi M.,Graziosi A.,Grigoriev D. N.,Haruyama T.,Hildebrandt M.,Hisamatsu Y.,Ignatov F.,Iwamoto T.,Kaneko D.,Kasami K.,Kettle P.-R.,Khazin B. I.,Kiselev O.,Korenchenko A.,Kravchuk N.,Lim G.,Maki A.,Mihara S.,Molzon W.,Mori T.,Morsani F.,Mzavia D.,Nardò R.,Natori H.,Nicolò D.,Nishiguchi H.,Nishimura Y.,Ootani W.,Ozone K.,Panareo M.,Papa A.,Pazzi R.,Piredda G.,Popov A.,Raffaelli F.,Renga F.,Ripiccini E.,Ritt S.,Rossella M.,Sawada R.,Schneebeli M.,Sergiampietri F.,Signorelli G.,Suzuki S.,Tenchini F.,Topchyan C.,Uchiyama Y.,Valle R.,Voena C.,Xiao F.,Yamada S.,Yamamoto S.,Yamashita S.,Yudin Yu. V.,Zanello D.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
Physics and Astronomy (miscellaneous),Engineering (miscellaneous)