Author:
Buchalla G.,Komatsubara T. K.,Muheim F.,Silvestrini L.,Artuso M.,Asner D. M.,Ball P.,Baracchini E.,Bell G.,Beneke M.,Berryhill J.,Bevan A.,Bigi I. I.,Blanke M.,Bobeth Ch.,Bona M.,Borzumati F.,Browder T.,Buanes T.,Buchmüller O.,Buras A. J.,Burdin S.,Cassel D. G.,Cavanaugh R.,Ciuchini M.,Colangelo P.,Crosetti G.,Dedes A.,De Fazio F.,Descotes-Genon S.,Dickens J.,Doležal Z.,Dürr S.,Egede U.,Eggel C.,Eigen G.,Fajfer S.,Feldmann Th.,Ferrandes R.,Gambino P.,Gershon T.,Gibson V.,Giorgi M.,Gligorov V. V.,Golob B.,Golutvin A.,Grossman Y.,Guadagnoli D.,Haisch U.,Hazumi M.,Heinemeyer S.,Hiller G.,Hitlin D.,Huber T.,Hurth T.,Iijima T.,Ishikawa A.,Isidori G.,Jäger S.,Khodjamirian A.,Koppenburg P.,Lagouri T.,Langenegger U.,Lazzeroni C.,Lenz A.,Lubicz V.,Lucha W.,Mahlke H.,Melikhov D.,Mescia F.,Misiak M.,Nakao M.,Napolitano J.,Nikitin N.,Nierste U.,Oide K.,Okada Y.,Paradisi P.,Parodi F.,Patel M.,Petrov A. A.,Pham T. N.,Pierini M.,Playfer S.,Polesello G.,Policicchio A.,Poschenrieder A.,Raimondi P.,Recksiegel S.,Řezníček P.,Robert A.,Rosner J. L.,Ruggiero G.,Sarti A.,Schneider O.,Schwab F.,Simula S.,Sivoklokov S.,Slavich P.,Smith C.,Smizanska M.,Soni A.,Speer T.,Spradlin P.,Spranger M.,Starodumov A.,Stech B.,Stocchi A.,Stone S.,Tarantino C.,Teubert F.,T’Jampens S.,Toms K.,Trabelsi K.,Trine S.,Uhlig S.,Vagnoni V.,van Hunen J. J.,Weiglein G.,Weiler A.,Wilkinson G.,Xie Y.,Yamauchi M.,Zhu G.,Zupan J.,Zwicky R.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
Physics and Astronomy (miscellaneous),Engineering (miscellaneous)