Author:
Aguilar-Saavedra J. A.,Ali A.,Allanach B. C.,Arnowitt R.,Baer H. A.,Bagger J. A.,Balazs C.,Barger V.,Barnett M.,Bartl A.,Battaglia M.,Bechtle P.,Bélanger G.,Belyaev A.,Berger E. L.,Blair G.,Boos E.,Carena M.,Choi S. Y.,Deppisch F.,Roeck A. De,Desch K.,Diaz M. A.,Djouadi A.,Dutta B.,Dutta S.,Eberl H.,Ellis J.,Erler J.,Fraas H.,Freitas A.,Fritzsche T.,Godbole R. M.,Gounaris G. J.,Guasch J.,Gunion J.,Haba N.,Haber H. E.,Hagiwara K.,Han L.,Han T.,He H.-J.,Heinemeyer S.,Hesselbach S.,Hidaka K.,Hinchliffe I.,Hirsch M.,Hohenwarter-Sodek K.,Hollik W.,Hou W. S.,Hurth T.,Jack I.,Jiang Y.,Jones D. R. T.,Kalinowski J.,Kamon T.,Kane G.,Kang S. K.,Kernreiter T.,Kilian W.,Kim C. S.,King S. F.,Kittel O.,Klasen M.,Kneur J.-L.,Kovarik K.,Krämer M.,Kraml S.,Lafaye R.,Langacker P.,Logan H. E.,Ma W.-G.,Majerotto W.,Martyn H.-U.,Matchev K.,Miller D. J.,Mondragon M.,Moortgat-Pick G.,Moretti S.,Mori T.,Moultaka G.,Muanza S.,Mühlleitner M. M.,Mukhopadhyaya B.,Nauenberg U.,Nojiri M. M.,Nomura D.,Nowak H.,Okada N.,Olive K. A.,Öller W.,Peskin M.,Plehn T.,Polesello G.,Porod W.,Quevedo F.,Rainwater D.,Reuter J.,Richardson P.,Rolbiecki K.,Roy P.,Rückl R.,Rzehak H.,Schleper P.,Siyeon K.,Skands P.,Slavich P.,Stöckinger D.,Sphicas P.,Spira M.,Tait T.,Tovey D. R.,Valle J. W. F.,Wagner C. E. M.,Weber Ch,Weiglein G.,Wienemann P.,Xing Z.-Z.,Yamada Y.,Yang J. M.,Zerwas D.,Zerwas P. M.,Zhang R.-Y.,Zhang X.,Zhu S.-H.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
Physics and Astronomy (miscellaneous),Engineering (miscellaneous)