Low‐leakage track‐and‐hold buffer in 130‐nm CMOS with open‐gate FET bias
Author:
Affiliation:
1. Sensors and Electronics Laboratory, HRL Laboratories, LLC Malibu California USA
Publisher
Institution of Engineering and Technology (IET)
Subject
Electrical and Electronic Engineering
Link
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/pdf/10.1049/ell2.12504
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