Improved dielectrics for multilayer ceramic capacitors
Author:
Publisher
Institution of Engineering and Technology (IET)
Subject
Electrical and Electronic Engineering
Link
https://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/ep.1985.0359?crawler=true&mimetype=application/pdf
Reference16 articles.
1. Rutt, P.C.: (3 689 220)
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1. XPS depth profiling and leakage properties of anodized titania dielectrics and their application in high-density capacitors;Journal of Materials Science;2015-08-06
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