Двухфотонное поглощение в экспериментах типа «накачказондированиие» / Борисов Г.М., Ледовских Д.В., Рубцова Н.Н

Author:

Abstract

Двухфотонное поглощение необходимо учитывать при исследовании элементов зеркал с насыщающимся поглощением [1-5] – для гетероструктур, включающих слои квантовых ям, выращенных поверх подложки арсенида галлия. В данной работе исследована кинетика пропускания подложки GaAs ориентации (001) толщиной 400 микрон в области прозрачности. Экспериментальные данные по регистрации пробного излучения, проходящего через образец под углом Брюстера, получены при использовании излучения фемтосекундного лазера Yb3+:KY(WO4)2. Использованы пиковые интенсивности излучения накачки от 0,2 до 2,8 ГВт/см2 , лазер работал на центральной длине волны излучения 1035 нм, длительность импульсов 130 фс. Интенсивность пробного излучения не превышала 560 Вт/см2 . Сигнал изменения в пропускании образца регистрировался на частоте, равной суммарной частоте прерывания пучков насыщающего и пробного излучений [6]. Продемонстрировано кинетические кривые изменения пропускания пробного излучения при разных интенсивностях накачки. Небольшие сдвиги максимумов кривых объясняются смещением пучков при установке нейтральных фильтров. При построении модели нелинейного пропускания пробного излучения через образец учитывались процессы вырожденного двухфотонного и трёхфотонного поглощения, а также нелинейной рефракции в образце. Все эти процессы безынерционны. Из численных решений для параметров, близких к экспериментальным условиям, видно, что присутствие излучения накачки приводит к ослаблению пробного излучения, существенно большему, чем без накачки. Для указанных диапазонов интенсивности накачки процесс трёхфотонного поглощения хотя и заметен, но составляет (в зависимости от толщины образца и интенсивностей пучков накачки и пробного излучений) не более 20% от общего сигнала. В расчётах использованы уравнения и величина коэффициента двухфотонного поглощения β=23 см/ГВт из [7], а также значение коэффициента трёхфотонного поглощения γ=0,9 см3 /ГВт2 , экстраполированное к области 1035 нм из [8].

Publisher

Rzhanov Institute Semiconductor Physics SB RAS

Reference8 articles.

1. Н.Н. Рубцова и др., Прикладная фотоника, 5, 211 (2018).

2. V.E. Kisel’ et al., Optics Letters, 40, 2707 (2015).

3. A.A. Kovalyov et al., Laser Physics Letters, 12, 075801 (2015).

4. N.N. Rubtsova et al, Laser Physics, 26, 025001 (2016).

5. Г.М. Борисов и др., Автометрия, 52, 52 (2016).

同舟云学术

1.学者识别学者识别

2.学术分析学术分析

3.人才评估人才评估

"同舟云学术"是以全球学者为主线,采集、加工和组织学术论文而形成的新型学术文献查询和分析系统,可以对全球学者进行文献检索和人才价值评估。用户可以通过关注某些学科领域的顶尖人物而持续追踪该领域的学科进展和研究前沿。经过近期的数据扩容,当前同舟云学术共收录了国内外主流学术期刊6万余种,收集的期刊论文及会议论文总量共计约1.5亿篇,并以每天添加12000余篇中外论文的速度递增。我们也可以为用户提供个性化、定制化的学者数据。欢迎来电咨询!咨询电话:010-8811{复制后删除}0370

www.globalauthorid.com

TOP

Copyright © 2019-2024 北京同舟云网络信息技术有限公司
京公网安备11010802033243号  京ICP备18003416号-3