Investigation of the Ion Thermal Effect on Tin Contamination in Low-Temperature Hydrogen Plasma Cleaning

Author:

Wang Sishu,Wu Andong,Lu Qipeng,Song Yuan,Yu Xingang,Wei Jianjun,Gou Fujun

Publisher

Elsevier BV

Reference30 articles.

1. Tin removal by an annular surface wave plasma antenna in an extreme ultraviolet lithography source;D Qerimi;J. Phys. D,2022

2. Debris mitigation and cleaning strategies for Sn-based sources for EUV lithography;D J W Klunder;Emerg. Lithograph. Technol. IX,2005

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