Impact of the Component Manufacturing on the Reliability of Si-Based Diodes

Author:

Román-Sánchez Sara,París Marina,Lorite Israel,Fernández Jose Francisco,Serrano Aida,Moure Alberto

Publisher

Elsevier BV

Reference29 articles.

1. Solder joint reliability in alternator power diode assemblies;T Y Pan;J. Electron. Mater,1999

2. In situ thermal runaway of Si-based press-fit diodes monitored by infrared thermography;A Moure;Results Phys,2020

3. Influence of the design on the thermal response of press-fit diodes: An infrared thermographic study;A Moure;Results Phys,2020

4. Toward reliable power electronics: Challenges, design tools, and opportunities;H Wang;IEEE Ind. Electron. Mag,2013

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