Laboratory Single-Crystal Anomalous X-ray Diffraction Measurement System for Analyzing Site Occupancies for Selected Atoms in Crystal Structures
Author:
Affiliation:
1. Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
Publisher
The Crystallographic Society of Japan
Subject
General Medicine
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/jcrsj/64/2/64_111/_pdf
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