1. [1] N. Fujiwara, T. Matsumoto, K. Koyama-Nakazawa, Y. Uwatoko, A. Hisada, Y. Fujimaki, S. Uchida: J. Phys. Conf. Ser., 121, 122004 (2008).
2. [2] K. Murata, K. Yokogawa, H. Yoshino, S. Klotz, P. Munsch, A. Irizawa, M. Nishiyama, K. Iizuka, T. Nanba, T. Okada, Y. Shiraga, S. Aoyama: Rev. Sci. Instrum., 79, 085101 (2008).
3. [4] H. Cui, H. Kobayashi, S. Ishibashi, M. Sasa, F. Iwase, R. Kato, A. Kobayashi: J. Am. Chem. Soc., 136, 7619 (2014).
4. [5] R.B. Aust, W.H. Bentley, H.G. Drickamer: J. Chem. Phys., 41, 1856 (1964).
5. [6] Q. Wang, H. Zhang, Y. Zhang, C. Liu, Y. Han, Y. Ma, Ch. Gao: High Pressure Res., 34, 355 (2014).