The measurement of the principal dielectric constants of sapphire by a mechanical action method
Author:
Publisher
IOP Publishing
Subject
General Engineering
Link
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/0508-3443/18/12/302/pdf
Reference10 articles.
1. �ber die chemische Natur der Oxydschichten, welche sich bei anodischer Polarisation auf den Metallen Aluminium, Zirkon, Titan und Tantal bilden
2. Some Electrostatic and Steady-Current Problems Involving Anisotropic Bodies
3. Über die Dielektrizitätskonstante einiger natürlicher und synthetischer Edelsteine (mit einem Anhang über Bernstein)
4. Die absolute Bestimmung von Dielektrizit�tskonstanten mit der Ellipsoidmethode
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1. Substrate effect on the photoluminescence of chemical vapor deposition transferred monolayer WSe2;Journal of Applied Physics;2020-07-28
2. Ferroelectric switching of electrically commanded alignment layers for liquid crystal displays;Journal of Applied Physics;2006-10
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