Author:
Akutsu T.,Ando M.,Arai K.,Arai Y.,Araki S.,Araya A.,Aritomi N.,Aso Y.,Bae S.-W.,Bae Y.-B.,Baiotti L.,Bajpai R.,Barton M. A.,Cannon K.,Capocasa E.,Chan M.-L.,Chen C.-S.,Chen K.-H.,Chen Y.-R.,Chu H.-Y.,Chu Y.-K.,Eguchi S.,Enomoto Y.,Flaminio R.,Fujii Y.,Fukunaga M.,Fukushima M.,Ge G.-G.,Hagiwara A.,Haino S.,Hasegawa K.,Hayakawa H.,Hayama K.,Himemoto Y.,Hiranuma Y.,Hirata N.,Hirose E.,Hong Z.,Hsieh B.-H.,Huang G.-Z.,Huang P.-W.,Huang Y.-J.,Ikenoue B.,Imam S.,Inayoshi K.,Inoue Y.,Ioka K.,Itoh Y.,Izumi K.,Jung K.,Jung P.,Kajita T.,Kamiizumi M.,Kanda N.,Kang G.-W.,Kawaguchi K.,Kawai N.,Kawasaki T.,Kim C.,Kim J.,Kim W.,Kim Y.-M.,Kimura N.,Kita N.,Kitazawa H.,Kojima Y.,Kokeyama K.,Komori K.,Kong A. K. H.,Kotake K.,Kozakai C.,Kozu R.,Kumar R.,Kume J.,Kuo C.-M.,Kuo H.-S.,Kuroyanagi S.,Kusayanagi K.,Kwak K.,Lee H.-K.,Lee H.-W.,Lee R.-K.,Leonardi M.,Lin C.-Y.,Lin F.-L.,Lin L. C.-C.,Liu G.-C.,Luo L.-W.,Marchio M.,Michimura Y.,Mio N.,Miyakawa O.,Miyamoto A.,Miyazaki Y.,Miyo K.,Miyoki S.,Morisaki S.,Moriwaki Y.,Nagano K.,Nagano S.,Nakamura K.,Nakano H.,Nakano M.,Nakashima R.,Narikawa T.,Negishi R.,Ni W.-T.,Nishizawa A.,Obuchi Y.,Ogaki W.,Oh J. J.,Oh S.-H.,Ohashi M.,Ohishi N.,Ohkawa M.,Okutomi K.,Oohara K.,Ooi C.-P.,Oshino S.,Pan K.-C.,Pang H.-F.,Park J.,Peiia Arellano F. E.,Pinto I.,Sago N.,Saito S.,Saito Y.,Sakai K.,Sakai Y.,Sakuno Y.,Sato S.,Sato T.,Sawada T.,Sekiguchi T.,Sekiguchi Y.,Shibagaki S.,Shimizu R.,Shimoda T.,Shimode K.,Shinkai H.,Shishido T.,Shoda A.,Somiya K.,Son E. J.,Sotani H.,Sugimoto R.,Suzuki T.,Suzuki T.,Tagoshi H.,Takahashi H.,Takahashi R.,Takamori A.,Takano S.,Takeda H.,Takeda M.,Tanaka H.,Tanaka K.,Tanaka K.,Tanaka T.,Tanaka T.,Tanioka S.,Tapia San Martin E. N.,Telada S.,Tomaru T.,Tomigami Y.,Tomura T.,Travasso F.,Trozzo L.,Tsang T. T. L.,Tsubono K.,Tsuchida S.,Tsuzuki T.,Tuyenbayev D.,Uchikata N.,Uchiyama T.,Ueda A.,Uehara T.,Ueno K.,Ueshima G.,Uraguchi F.,Ushiba T.,Putten M. H. P. M. van,Vocca H.,Wang J.,Wu C.-M.,Wu H.-C.,Wu S.-R.,Xu W.-R.,Yamada T.,Yamamoto K.,Yamamoto K.,Yamamoto T.,Yokogawa K.,Yokoyama J.,Yokozawa T.,Yoshioka T.,Yuzurihara H.,Zeidler S.,Zhao Y.,Zhu Z.-H.