A reflexion electron microscope-Reference-Cited by-同舟云学术

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A reflexion electron microscope

Published:1955-03 Issue:3 Volume:32 Page:86-91
ISSN:0950-7671
Container-title:Journal of Scientific Instruments
language:
Short-container-title:J. Sci. Instrum.

Author:

Cosslett V E,Jones D

Publisher

IOP Publishing

Subject

General Medicine

Link

http://stacks.iop.org/0950-7671/32/i=3/a=302/pdf

Reference15 articles.

1. �ber Fortschritte bei der Abbildung elektronenbestrahlter Oberfl�chen

2. Sublichtmikroskopische Aufl�sungen bei der Abbildung von Oberfl�chen im �bermikroskop

Cited by 17 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Scanning reflection ion microscopy in a helium ion microscope;Beilstein Journal of Nanotechnology;2015-05-07

2. Imaging of Crystalline Specimens and Their Defects;Transmission Electron Microscopy;1997

3. Introduction;Transmission Electron Microscopy;1997

4. Diffraction Contrast and Crystal-Structure Imaging;Transmission Electron Microscopy;1993

5. Introduction;Transmission Electron Microscopy;1993

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