Detectability & Sensitivity vs Incident Beam Energy in Modern Analytical Electron Microscopes
Author:
Affiliation:
1. Photon Sciences Directorate , Argonne National Laboratory, Lemont, Il, USA
Publisher
Oxford University Press (OUP)
Subject
Instrumentation
Link
https://academic.oup.com/mam/article-pdf/28/S1/784/48823565/mam0784.pdf
Reference17 articles.
1. Semiconductor Drift Chamber – An Application of a Novel Charge Transport Scheme;Gatti;Nucl. Instr. & Meth. In Phys. Res,1984
2. Large area cylindrical silicon drift detector
3. Simulation and modelling of a new silicon X-ray drift detector design for synchrotron radiation applications
4. High-Throughput, Large Area Silicon X-Ray Detectors for High-Resolution Spectroscopy Applications
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