Out-of-Focus STEM Method for Imaging Misfit Dislocations in a Hetero Interface
Author:
Publisher
Cambridge University Press (CUP)
Subject
Instrumentation
Reference5 articles.
1. Z-contrast stem for materials science
2. Imaging the Phase Separation in Atomically Thin BuriedSrTiO3Layers by Electron Channeling
3. Strain relaxation in Si/Ge/Si nanoscale bars from molecular dynamics simulations
4. Largely defocused probe scanning transmission electron microscopy for imaging local modulation of strain field in a hetero interface
5. Direct measurement of electron channeling in a crystal using scanning transmission electron microscopy
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