High Accuracy Examination on Location Identification of Partial Discharge with Time of Flight Method in Power Module-Reference-Cited by-同舟云学术

High Accuracy Examination on Location Identification of Partial Discharge with Time of Flight Method in Power Module

Author:

AKINAGA Yuya¹,MAKI Jyunya¹,MITSUDOME Hiroshi¹,KOZAKO Masahiro¹,HIKITA Masayuki¹,OKAMOTO Kenji²,IKEDA Yoshinari²,TANIGUCHI Katsumi²,NAKAMURA Yoko²

Affiliation:

1. KYUSHU INSTITUTE OF TECHNOLOGY

2. Fuji Electric Co., Ltd.

Publisher

Sumart Processing Society for Minerals, Environment and Energy

Link

Reference13 articles.

1. 高橋邦明、鳶島真一、高橋良和、土井卓也：「エナジーデバイスの信頼性入門」、日刊工業新聞社、(2014) 125-193.

2. 菅沼克昭：「SiC /GaN パワー半導体の実装と信頼性評価技術」、日刊工業新聞社、(2014) 15-59.

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4. 秋永優也、満留博、小迫雅裕、匹田政幸、岡本健次、池田良成、谷口克己、中村瑶子：“樹脂モールドされた絶縁基板における長期課電中の電気絶縁特性評価”、平成28 年基礎・材料・共通部門大会、6-A-p1-2 (2016) 97.

5. 秋永優也、満留博、小迫雅裕、匹田政幸、岡本健次、池田良成、谷口克己、中村瑶子：“樹脂封止した絶縁基板の人工ボイドにおける部分放電特性の評価”、第47 回電気電子絶縁材料システムシンポジウム、MVP-22 (2016) 228-231.