Effect of Material Property on the Joint Reliability of Wafer Level Package

Author:

TACHIBANA Ken1,NOMURA Hikaru1,YOSHIKAWA Shunsaku1,SAITO Takashi1

Affiliation:

1. SENJU METAL INDUSTRRY Co.,LTD.

Publisher

Sumart Processing Society for Minerals, Environment and Energy

Reference5 articles.

1. 春日寿夫:“CSP/BGA/ フリップチップ実装技術の最新動向”、電子技術、41-10 (1999) 2-7.

2. 松崎富夫、小杉智之:“フリップチップ実装によるWL-CSP の接続信頼性”、エレクトロニクス実装学会誌、15-5 (2012) 349-356.

3. 小林治文:“ウエハレベルCSP の今後の動向”、エレクトロニクス実装学会誌、3-3 (2000) 263-268.

4. 西村智則、渡辺聡、黒羽資修:“ウェハーレベルCSP はんだ接続寿命に及ぼすパッケージサイズの影響”、ケーヒン技報、1 (2012) 25-30.

5. 山田春彦、小川一義:“電子部品はんだ接合部の熱疲労寿命解析”、豊田中央研究所R&D レビュー、31-4 (1996) 43-52.

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