Исследование электрофизических параметров голографического микроскопа-Reference-Cited by-同舟云学术

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Исследование электрофизических параметров голографического микроскопа

Published:2014 Issue:8 Volume:2014 Page:14-17
ISSN:0207-3528
Container-title:Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.
language:ru
Short-container-title:Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед.

Author:

Егоров Н. В.,Трофимов В. В.,Антонов С. Р.,Федоров А. Г.,Антонова Л. И.

Publisher

Akademizdatcenter Nauka

Subject

Mechanical Engineering

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1. Atomic Structure Probing of Thin Metal Films via Vacuum Holographic Microscopy;Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques;2019-11

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