Einfache Methode zur elektronenmikroskopischen Beobachtung identischer Stellen bei Oberflächenuntersuchungen

Abstract

Mit Hilfe von auf dem Objekt angebrachten Markierungslinien werden elektronenmikroskopische Präparate (Abdrucke) über die Mitte des Trägernetzes mit einer Genauigkeit von ca. 0,02 mm identisch zentriert. Die beschriebene Methode ist einfach, allgemein verwendbar und ermöglicht das Arbeiten mit einem Minimum an Fehlpräparaten. Elektronenoptische Aufnahmen, welche die gleiche Stelle auf LiF-Monokristallen vor und nach Behandlung zeigen, geben ein Beispiel ihrer Anwendungsmöglichkeit.