Lichtfeld-Tiefenschätzung für die Vermessung teilspiegelnder Oberflächen

Abstract

Zusammenfassung Die Deflektometrie analysiert Messproben durch indirekte Beobachtung einer bekannten Referenzszene als Reflexion in der Oberfläche. Sie benötigt jedoch Zusatzwissen, z.B. über mindestens einen Oberflächenpunkt, um sehr präzise Oberflächengradienten zu messen. Lichtfeldkameras als optische 3D-Messgeräte erlauben es bei teilspiegelnden Oberflächen, die Entfernung sowohl zur Oberfläche als auch zur Referenzszene zu messen. In diesem Beitrag wird ein Ansatz präsentiert, bei dem diese doppelte Tiefenschätzung effektiv mit der Deflektometrie kombiniert wird. Durch Formulieren der Oberflächenrekonstruktion als Variationsproblem wird die Tiefenschätzung mit den deflektometrischen Gradienten fusioniert. Experimente bestätigen die Methode und zeigen, dass hohe Rekonstruktionsgenauigkeiten erreicht werden.