Berechnung der Interferenz-Lagen in den Streukurven fester amorpher Elemente

Abstract

Es wird gezeigt, daß der Verlauf der Intensitätskurven fester amorpher Elemente durch Überlagerung von nur wenigen Interferenz-Funktionen zustande kommt. So werden die vorderen Maxima in der Streukurve von festem amorphem Si, Ge, Se, As und Sb im wesentlichen durch die sin xv/xv-Funktionen mit xv=k s rv für die Abmessungen r1 und r2 des Grundbausteines festgelegt. Die Interferenz-Maxima bei großen sin ϑ/λ-Werten werden dagegen fast ausschließlich vom kürzesten Atomabstand r1 bestimmt, was auf eine mit dem Abstand wachsende Streuung der Atomlagen hinweist. In den festen amorphen Elementen liegt demnach kein stabiler Grundbaustein vor.