Ein photoelektronisches Mikroskop zur Ausmessung massenspektrographischer Dublettabstände

Abstract

Es wird der Aufbau eines Präzisionsmeßgerätes für Abstandsmessungen von Spektrallinien beschrieben, das die üblichen Komparatoren an Aufwand und Genauigkeit erheblich übertrifft. Die Verbindung eines hundertfach vergrößernden Projektionsmikroskopes mit einem photoelektronischen Einstellverfahren gestattet den Abstand von Liniendubletten bis zu etwa 0,1 μ (mittlerer Fehler der Einzelmessung) genau auszumessen. Die Photometerkurven der zu bestimmenden Linien erscheinen dabei auf dem Schirm eines Kathodenstrahloszillographen. Die Methode strengt die Augen wenig an und führt auch für schwache und gekrümmte Linien zu guten Ergebnissen