Affiliation:
1. Aus dem Forschungslaboratorium der Siemens-Schuckertwerke AG., Erlangen
Abstract
Bei Zusammenstößen verschiedener einfach geladener Ionensorten (im folgenden mit X⁺-Ionen bezeichnet) mit H2-Molekülen erfolgt die Bildung von Ionen des Typs HX⁺. Die hier durchgeführte massenspektrometrische Untersuchung ergab, daß die HX+-Bildung der X⁺- und H2-Konzentration proportional und der Geschwindigkeit der X+-Ionen umgekehrt proportional ist. Für die X⁺-Ionen H2
+, He+, Ne⁺, A+, Kr+, N2
+, O2
+ und GO2
+ wurde der Wirkungsquerschnitt bzw. die spezifische Bildungsrate der HX+-Bildung gemessen. Die Wirkungsquerschnitte liegen bei einer mittleren kinetischen Energie der Ionen von Ekin = 0,25 eV in der Größenordnung von 10-15 cm2. In der Diskussion werden ferner einige HX+-Ionen mit entsprechenden Molekülen verglichen, die eine gleiche Elektronenkonfiguration haben. So entsprechen den Ionen HHe+, HNe⁺, HA+ bzw. HKr+ die Moleküle H2, HF, HCl bzw. HBr.
Subject
Physical and Theoretical Chemistry,General Physics and Astronomy,Mathematical Physics
Cited by
38 articles.
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