Massenspektrometer mit Doppelfokussierung zweiter Ordnung

Author:

Hintenberger H.1,König L. A.1

Affiliation:

1. Aus dem Max-Planck-Institut für Chemie, Mainz

Abstract

Es werden Massenspektrometer mit vollständiger Doppelfokussierung zweiter Ordnung, d. h. mit korrigiertem Öffnungsfehler (a2), korrigierter gemischt öffnungswinkel- und geschwindigkeitsabhängiger Aberration (α β) und mit korrigierter rein geschwindigkeitsabhängiger Aberration (β2) angegeben. Ihre Abmessungen stellen die Lösungen eines komplizierten Gleichungssystems von 5 Gleichungen dar. 3 von den 8 in die Gleichungen eingehenden Unbekannten (Ablenkwinkel φm und Ein- und Austrittswinkel ε′ und ε″ des Hauptstrahls am Magnetfeld) werden vorgegeben und die Abhängigkeit der 5 anderen Größen von diesen 3 Winkeln untersucht. Die Bewältigung der dabei auftretenden sehr umfangreichen numerischen Rechnungen wurde durch die Anwendung eines IBM-Magnet-trommelrechners Type 650 ermöglicht. Das benutzte Rechenverfahren wird skizziert. Es zeigt sich, daß sowohl für gleichsinnige als auch für gegensinnige Ablenkung im elektrischen und magnetischen Feld Massenspektrometer mit vollständiger Doppelfokussierung zweiter Ordnung möglich sind, über die an Hand von Tabellen und Diagrammen ein Überblick gegeben wird. Besonders bei gleichsinniger Ablenkung in beiden Feldern ergeben sich Apparate mit vernünftigen Abmessungen. Vier solche Beispiele waren bereits in einer früheren Notiz (Z. Naturforschg. 12 a, 443 [1957]) veröffentlicht worden.

Publisher

Walter de Gruyter GmbH

Subject

Physical and Theoretical Chemistry,General Physics and Astronomy,Mathematical Physics

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1. Image aberrations;Optics of Charged Particles;2022

2. Notes and References;Principles of Electron Optics;2018

3. Instrumentation;Mass Spectrometry;2017

4. Notes and References for Volume 2;Principles of Electron Optics;1996

5. Recent developments in mass spectrometry : A review of instrumentation and applications;Organic Mass Spectrometry;1991-05

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