Über die Schwärzung von Photoplatten durch verschieden schwere Kohlenstoffmolekülionen

Abstract

In einem Massenspektrographen wurde die Schwärzung von Ilford Q 2-Platten als Funktion der aufgetroffenen Teilchenzahl für die verschieden schweren Kohlenstoffmolekülionen C1 +, C2 +, . . . Cn + ... C26 + untersucht und dabei festgestellt, daß die von diesen Ionenarten hervorgerufenen Schwärzungen durch eine gemeinsame „reduzierte Schwärzungsfunktion“ S = f (log ν*) dargestellt werden kann. Dabei ist S = log θ = Schwärzung; θ =Φ0/Φ = Opazität, Φ0 = ungeschwächte Beleuchtungsstärke der Photozelle beim Photometrieren, Φ = durch geschwärzte Körner geschwächte Beleuchtungsstärke und ν* die der wirklichen Flächendichte der aufgetroffenen Teilchen proportionale „reduzierte Teilchendichte“ ν* = νn* = βnνn βn ist ein von der Atomzahl n der Molekülionen abhängiger Faktor, für den der Ansatz βn = const/nα (α = 1,25 ± 0,25) versucht wird. Damit von C4 +-, C8 +-, C12 +-, C20 +- bzw. von C28 +-Ionen einer Energie von 14 keV auf einer Ilford Q2-Platte eine erkennbare Schwärzung entsteht, müssen 4 · 104, 1 · 105, 2 · 105, 4 · 105 bzw. 6 · 105 Ionen pro mm2 auf die Photoplatte auftreffen.