Eine Deutung der Formierungserscheinungen bei Selen-Sperrschicht-Gleichrichtern

Author:

Rose Frank,Schmidt Hans

Abstract

Abstract In der vorliegenden Arbeit ist der Versuch unternommen worden, die bei der Formie-rung und Lagerung von Selen-Sperrschicht-Gleichrichtern auftretenden Erscheinungen durch eine Verlagerung von Störstellen in der Randschicht und ihre Abwanderung in die Deckelektrode zu erklären. Es wird gezeigt, daß unter diesen Voraussetzungen mit Hilfe der Sch o 11 k y sehen Randschichttheorie eine qualitative Behandlung der bei Versuchen aufgefundenen Effekte, von denen eine Anzahl diskutiert werden, möglich ist. U ber die Arbeitsweise der

Publisher

Walter de Gruyter GmbH

Subject

Physical and Theoretical Chemistry,General Physics and Astronomy,Mathematical Physics

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1. Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. XV. Kupfer-Oxydul-Gleichrichter aus einkristallinem Kupfer;Annalen der Physik;1969

2. Further Results in the General Theory of Barrier Layer Rectifiers;Proceedings of the Physical Society. Section B;1952-06-01

3. Recovery of Selenium Rectifiers after a Voltage Pulse in the Blocking Direction;Journal of Applied Physics;1951-07

4. The theory of direct-current characteristics of rectifiers;Proceedings of the Royal Society of London. Series A. Mathematical and Physical Sciences;1951-05-22

5. Origin of a Time-lag Effect in Selenium Rectifiers;Nature;1951-03

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