Zum Nachweis von Oberflächenfilmen mittels Elektroneninterferenzen

Abstract

Abstract Für die Beantwortung der Frage, wieweit man mit Hilfe der Elektroneninterferenzmethode in Reflexion entscheiden kann, oh eine Oberfläche mit einer Deckschicht belegt ist, und welche Dicke diese hat, ist die Berücksichtigung der Oberflächenrauhigkeit von entscheidender Bedeutung: ein kristalliner Oberflächenfilm von 5-10 Å kann auf einer elektronenoptisch glatten sowie elektrolytisch polierten Fläche noch erkannt werden, kaum jedoch auf einer rauhen Fläche (aufgedampft, geschmirgelt). - Diese theoretischen Betrachtungen werden auf Versuche an Zink (Spaltflächen und rauhe Flächen) und Aluminium (elektrolytisch polierte Flächen) angewendet: Spaltflächen von Zink sind mit einer mindestens 10 Å dicken einkristallinen Oxydschicht bedeckt, die das Auftreten der Zinkinterferenzen verhindern, während rauhe Flächen von Zink Zinkinterferenzen mit nur einer Andeutung von Zinkoxyd ergeben. - Elektrolytisch polierte Aluminiumflächen überziehen sich mit einer so dünnen Schutzschicht (30-60 Å), daß die Aluminiuminterferenzen auch noch nach mehr als einem Monat Exposition an Luft erkennbar bleiben.