Neue Wege der metrologischen Rückführbarkeit in der Längen- und Koordinatenmesstechnik

Author:

Kniel Karin1,Flügge Jens1,Bosse Harald1

Affiliation:

1. PTB , Braunschweig , Germany

Abstract

Zusammenfassung Die metrologische Rückführbarkeit und der damit verbundene Bezug auf eine allgemein akzeptierte Referenz für Messergebnisse sind unverzichtbare Grundlagen für die heute existierende global vernetzte Fertigung. Seit Einführung des industriellen Austauschbaus Ende des 18. Jahrhunderts haben Fortschritte in der Metrologie eine fortschrittliche industrielle Fertigung ermöglicht. In diesem Beitrag wird ein Überblick über Wege zur Sicherstellung der metrologischen Rückführbarkeit in der Längen- und Koordinatenmesstechnik gegeben. Anhand von jüngsten Beispielen aus den Bereichen der 1D-Längenkalibrierung und der 3D-Koordinatenmesstechnik werden aktuelle Trends und ihre Hintergründe aufgezeigt.

Publisher

Walter de Gruyter GmbH

Subject

Electrical and Electronic Engineering,Instrumentation

Reference32 articles.

1. B. Brinkmann: Internationales Wörterbuch de Metrologie, Grundlegende und allgemeine Begriffe und zugeordnete Benennungen (VIM). Deutsch-Englische Fassung ISO /IEC Leitfaden 99:2007, 4. Auflage 2012, Beuth Verlag.

2. H. Bosse, H. Kunzmann, J. Pratt, S. Schlamminger, I. Robinson, M. de Podesta, P. Shore, A. Balsamo, P. Morantz: Contributions of precision engineering to the revision of the SI. CIRP Annals: 66 (2017), 827–850.10.1016/j.cirp.2017.05.003

3. H. Kunzmann, T. Pfeifer, J. Flügge: Scales vs. Laser Interferometers – Performance and Comparison of two Measuring Systems. CIRP Annals: 42/2 (1993).

4. J. Flügge: Vergleichende Untersuchungen zur meßtechnischen Leistungsfähigkeit von Laserinterferometern und inkrementellen Maßstabmeßsystemen. PTB-Bericht PTB-F-23.

5. Mise en pratique: https://www.bipm.org/en/publications/mises-en-pratique/ (letzter Zugriff: 17.06.2019).

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