Affiliation:
1. Aus dem Institut für Angewandte Physik der Universität Hamburg
Abstract
Es wird eine Feinstrahlapparatur zur Beobachtung von Elektroneninterferenzen beschrieben, bei der zur Erzielung hoher Auflösung mittels zweier elektromagnetischer Linsen der Strahlquerschnitt am Ort der Photoplatte sehr stark reduziert wird. Theoretische Betrachtungen und experimentelle Untersuchungen zeigen, daß die Größe des Durchmessers des vom Elektronenstrahl auf der Photoplatte ohne Objektdurchstrahlung aufgezeichneten Bildpunktes einen durch die Eigenschaften der photographischen Schicht bestimmten Wert von einigen μ nicht unterschreitet. Mit Objekt ist im allgemeinen bei der beschriebenen Apparatur für die Größe des Durchmessers der Interferenzpunkte die Kristallitgröße des Objektes maßgebend.
Subject
Physical and Theoretical Chemistry,General Physics and Astronomy,Mathematical Physics
Cited by
3 articles.
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1. Kristallgitter-Strukturen;Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique;1960
2. Über die Genauigkeit von Gitterkonstantenmessungen mit Elektroneninterferenzen;Verhandlungen;1960
3. The intensity profiles of electron diffraction lines;Philosophical Magazine;1958-10