A New Approach to Surface Deformation Measurement from Phase-stepped Holographic Fringes
Author:
Publisher
Informa UK Limited
Subject
Atomic and Molecular Physics, and Optics
Link
http://www.tandfonline.com/doi/pdf/10.1080/09500349514551111
Reference20 articles.
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1. Generation of carrier fringes in holography and shearography;Applied Optics;2000-06-01
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