A mixed-level framework to estimate SER induced by SEMT in advanced technologies
Author:
Funder
The Research Plan of National University of Defense Technology
Publisher
Informa UK Limited
Subject
Electrical and Electronic Engineering
Link
http://www.tandfonline.com/doi/pdf/10.1080/00207217.2015.1072845
Reference17 articles.
1. Effect of multiple-transistor charge collection on SET pulse widths
2. Single-Event Transient Pulse Quenching in Advanced CMOS Logic Circuits
3. Charge Collection and Charge Sharing in a 130 nm CMOS Technology
4. Layout Technique for Single-Event Transient Mitigation via Pulse Quenching
5. The Effect of Re-Convergence on SER Estimation in Combinational Circuits
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