L.Field distribution and graphical ray tracing in electron optical systems-Reference-Cited by-同舟云学术

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L.Field distribution and graphical ray tracing in electron optical systems

Published:1938-10 Issue:176 Volume:26 Page:570-601
ISSN:1941-5982
Container-title:The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science
language:en
Short-container-title:The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science

Author:

Jacob L.

Publisher

Informa UK Limited

Link

http://www.tandfonline.com/doi/pdf/10.1080/14786443808562151

Reference13 articles.

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1. Potential well modulation of electron beams;Physikalisch-Technischer Teil;1960

2. Kathoden;Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique;1960

3. Potential well modulation of electron beams;Verhandlungen;1960

4. Trajectories in the Symmetrical Electron Lens;Journal of Applied Physics;1953-10

5. Abbildungsfelder und Gaußsche Dioptrik;Grundlagen der Elektronenoptik;1952

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