Informationssteigerung in der Vielstrahlinterferometrie
Author:
Publisher
Informa UK Limited
Subject
Electronic, Optical and Magnetic Materials
Link
https://www.tandfonline.com/doi/pdf/10.1080/713818109
Reference19 articles.
1. Ein Interferenzverfahren zur Absolutprüfung von Planflächennormalen. I
2. Precise Measurement of Planeness
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