10.3131/jvsj.49.637
Author:
Publisher
The Vacuum Society of Japan
Subject
Electrical and Electronic Engineering,Surfaces, Coatings and Films,Condensed Matter Physics
Reference12 articles.
1. 1) 森田清三編著:走査型プローブ顕微鏡—最新技術と未来予測—(丸善株式会社,東京,2005年).
2. True molecular resolution in liquid by frequency-modulation atomic force microscopy
3. A High-speed Atomic Force Microscope for Studying Biological Macromolecules in Action
4. Atom Manipulation on Si and Ge Surfaces using Atomic Force Microscope
5. Real topography, atomic relaxations, and short-range chemical interactions in atomic force microscopy: The case of theα−Sn∕Si(111)−(3×3)R30°surface
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