Application of Chemometrics into Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) Data Analysis
Author:
Publisher
The Vacuum Society of Japan
Subject
Spectroscopy,Surfaces and Interfaces,Instrumentation,General Materials Science
Reference18 articles.
1. 1) J. L. S. Lee and I. S. Gilmore: Surface Analysis (John Wiley & Sons, Ltd., Ed. by J. C. Vickerman and I. S. Gilmore, 2nd Ed., 2009) p. 563.
2. Multivariate image analysis strategies for ToF-SIMS images with topography
3. 3) B. J. Tyler, G. Rayal and D. G. Castner: Biomaterials, 28 (2008) 2414.
4. Accounting for Poisson noise in the multivariate analysis of ToF-SIMS spectrum images
5. A graphical user-friendly interface for MCR-ALS: a new tool for multivariate curve resolution in MATLAB
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