X-ray Diffraction Analysis of a Trace Amount of Components in Papers Using the High Speed Detector-Reference-Cited by-同舟云学术

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X-ray Diffraction Analysis of a Trace Amount of Components in Papers Using the High Speed Detector

Published:2021 Issue:11 Volume:75 Page:992-995
ISSN:0022-815X
Container-title:JAPAN TAPPI JOURNAL
language:en
Short-container-title:J. Tappi J.

Author:

Takei Toshitatsu¹,Tawara Eriko¹

Affiliation:

1. Material Analysis Center, Innovation Promotion Division, Oji Holdings Corporation

Publisher

Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry

Subject

Mechanical Engineering,General Materials Science,Media Technology,General Chemistry

Link

https://www.jstage.jst.go.jp/article/jtappij/75/11/75_75.992/_pdf

Reference5 articles.

1. 1) Saigo M.：Center of advanced Instrumental analysis Kyushu University, Vol. 31 No. 2 （2012）

2. 2) Nakai I.：The actual X-ray powder analysis 18-48 （2009）

3. 3) Takei T.：Proceeding of 75^th pulp and paper Research Conference. 158-161 （2008）

4. 4) Takei T.：Japan Tappi Journal., 69 （11） 1245-1256 （2015）

5. 5) Rigaku.：Si non-reflective sample plate for powder X-ray diffraction （2017）

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