Alloy compositional profiles by AES, ESCA, and ion sputtering: Air‐exposed Fe1−xPdx films

Author:

Lee Wen‐Yaung,Lee M. H.,Eldridge Jerome M.

Publisher

American Vacuum Society

Subject

General Engineering

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1. Ion bombardment effects in the sputtering of single- and two-phase brass alloys; Cu: 18-48% Zn;Surface and Interface Analysis;1987-09

2. Auger-Elektronen-Mikroanalyse Grundlagen und Anwendungen;Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie;1986

3. Sputtering of multicomponent materials;Sputtering by Particle Bombardment II;1983

4. Comparison of AES and XPS analysis of thin passive films;Journal of Vacuum Science and Technology;1982-04

5. Low energy ion bombardment enhanced diffusion, segregation, and phase transformations in Cu:In alloys;Radiation Effects;1982-01

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