Author:
Barendse W.,Vaiman D.,Kemp S. J.,Sugimoto Y.,Armitage S. M.,Williams J. L.,Sun H. S.,Eggen A.,Agaba M.,Aleyasin S. A.,Band M.,Bishop M. D.,Buitkamp J.,Byrne K.,Collins F.,Cooper L.,Coppettiers W.,Denys B.,Drinkwater R. D.,Easterday K.,Elduque C.,Ennis S.,Erhardt G.,Ferretti L.,Flavin N.,Gao Q.,Georges M.,Gurung R.,Harlizius B.,Hawkins G.,Hetzel J.,Hirano T.,Hulme D.,Jorgensen C.,Kessler M.,Kirkpatrick B. W.,Konfortov B.,Kostia S.,Kuhn C.,Lenstra J. A.,Leveziel H.,Lewin H. A.,Leyhe B.,Lil L.,Burriel I. Martin,McGraw R. A.,Miller J. R.,Moody D. E.,Moore S. S.,Nakane S.,Nijman I. J.,Olsaker I.,Pomp D.,Rando A.,Ron M.,Shalom A.,Teale A. J.,Thieven U.,Urquhart B. G. D.,Vage D. -I.,Van de Weghe A.,Varvio S.,Velmala R.,Vilkki J.,Weikard R.,Woodside C.,Womack J. E.,Zanotti M.,Zaragoza P.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC