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Correlation between defect-related electroluminescence and charge trapping in Gd-implanted SiO2 layers

  • Published:2007-06-23 Issue:2 Volume:88 Page:241-244
  • ISSN:0946-2171
  • Container-title:Applied Physics B
  • language:en
  • Short-container-title:Appl. Phys. B

Author:

Prucnal S.,Sun J.M.,Nazarov A.,Tjagulskii I.P.,Osiyuk I.N.,Fedaruk R.,Skorupa W.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

General Physics and Astronomy,Physics and Astronomy (miscellaneous),General Engineering
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