X-Ray characterization of the anisotropy properties of thin films

Author:

Balestrino G.,Lagomarsino S.,Scarinci F.,Tucciarone A.,Mastrogiacomo L.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

General Physics and Astronomy

Reference5 articles.

1. W. S. Hyler andR. L. Jackson: inResidual Stress in Metals and Metal Construction, edited byW. R. Osgood (New York, N. Y., 1954).

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