Dotierungsverfahren

Author:

von Münch Waldemar

Publisher

Vieweg+Teubner Verlag

Reference13 articles.

1. Halbleiter: Störstellen und Defekte in Elementen der IV. Gruppe und HI-V-Verbindungen;Landolt-Börnstein,1989

2. Halbleiter: Technologie von Si, Ge und SiC;Landolt-Börnstein,1984

3. E. Haas, J. Martin, M. Schnöller, Siemens-Z. 50 (1976) 509

4. H. Salow, H. Beneking, H. Krömer, W. v. Münch, Der Transistor. Technische Physik in Einzeldarstellungen Bd. 15, Springer-Verlag, Berlin, Göttingen, Heidelberg 1963

5. G. Winstel, C. Weyrich, Optoelektronik I, Halbleiter-Elektronik Bd. 10, Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York 1980

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