1. H.W. Werner: Introduction to secondary ion mass spectroscopy (SIMS), in Electron and Ion Spectroscopy of Solids, ed. by L. Fiermans, J. Vennik, W. Dekeyser ( Plenum, New York 1977 ) p. 342
2. A. Benninghoven, F.G. Rüdenauer, H.W. Werner: Secondary Ion Mass Spectrometry ( Wiley, New York 1987 )
3. D.J. O’Connor, B.A. Sexton, R.St.C. Smart (eds.): Surface Analysis Methods in Materials Science,Springer Ser. Mater. Sci., Vol.23 (Springer, Berlin, Heidelberg 1992) Chap.5
4. Oechsner H. (ed.): Thin Film Depth Profile Analysis, Topics Curr. Phys., Vol. 37 ( Springer, Berlin, Heidelberg 1984 )
5. J. Fischer: Entwicklung quantitiver Meßverfahren für die Massenspektrometrie in der MOMBE und Erprobung an einer Arsenquelle, Diploma Thesis, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen (1986)