Thermovoltages in Scanning Tunneling Microscopy-Reference-Cited by-同舟云学术

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Thermovoltages in Scanning Tunneling Microscopy

Published:1998 Issue: Volume: Page:49-69
ISSN:1434-4904
Container-title:Scanning Probe Microscopy
language:
Short-container-title:

Author:

Möller R.

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-662-03606-8_3

Reference21 articles.

1. C.C. Williams, H.K. Wickramasinghe: Nature 344, 317 (1990); see also Scanning Tunneling Microscopy II, ed. by R. Wiesendanger, H.J. Güntherodt, 2nd edn., Springer Ser. Surf. Sci., Vol. 28 (Springer, Berlin, Heidelberg 1995)

2. M. Kohler: Ann. d. Physik 38, 542 (1940)

3. C.R. Leavens, G.C. Aers: Solid State Commun. 61, 289 (1987)

4. J.A. Stovneng, P. Lipavskÿ: Phys. Rev. B42, 9214 (1990)

5. J. Tersoff, D.R. Hamann: Phys. Rev. B 31, 805 (1985)

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Electron transport in stepped Bi2Se3 thin films;Journal of Physics: Condensed Matter;2017-07-20

2. Proximal Probe Techniques;Encyclopedia of Analytical Chemistry;2006-09-15

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